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HKT-Lite 1.0日本富士fujiwork固定式薄膜測厚儀
日本富士fujiwork固定式薄膜測厚儀HKT-Lite 1.0 它可用于所有工業(yè)領(lǐng)域的測量，質(zhì)量控制，節(jié)能等。 無繩輕巧！價格低廉的固定式測量儀！
更新日期：2026-06-22 訪問量：1822
HKT-Lite 0.1日本富士fujiwork便攜式超薄薄膜測厚儀
日本富士fujiwork便攜式超薄薄膜測厚儀HKT-Lite 0.1 無繩輕巧！即使在沒有電源的地方也可以輕松進行0.1μm的測量！
更新日期：2026-06-22 訪問量：2021
日本富士fujiwork便攜式薄膜測厚儀HKT-1200 也可以使用電池的緊湊型厚度測量儀
更新日期：2026-06-22 訪問量：2198
日本富士fujiwork超薄薄膜測厚儀HKT-1216 消除測量者的偏差舒適，準(zhǔn)確地測量1μm或更小的超薄膜
更新日期：2026-06-22 訪問量：1846
日本富士fujiwork連續(xù)厚度測量儀FT-D100NL
日本富士fujiwork連續(xù)厚度測量儀FT-D100NL 多合一緊湊型機器的改進版！!! 只需設(shè)置薄膜，就可以從無鉛的尖duan測量厚度。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1725
日本富士fujiwork連續(xù)厚度測量儀FT-D200
日本富士fujiwork連續(xù)厚度測量儀FT-D200 帶有內(nèi)置顯示屏的緊湊型機器。運輸功能得到進一步改善，可以進行穩(wěn)定的連續(xù)厚度測量！
更新日期：2026-06-22 訪問量：1978
日本富士fujiwork連續(xù)厚度測量儀FT-A200
日本富士fujiwork連續(xù)厚度測量儀FT-A200 帶有高精度測量頭和放大器單元的機器
更新日期：2026-06-22 訪問量：1893
日本napson晶圓平整度測量厚度檢測FLA-200 測厚儀
日本napson晶圓平整度測量厚度檢測FLA-200 非接觸式平面度/厚度測量系統(tǒng)。測量晶片樣品的平整度（TTV，BOW，WARP）和厚度。
更新日期：2025-05-02 訪問量：4651
OMD-1000日本朝日分光asahi-spectra光譜膜厚監(jiān)測儀
日本朝日分光asahi-spectra光譜膜厚監(jiān)測儀OMD-1000 這是一臺光譜膜厚監(jiān)測儀，用于監(jiān)測在用單色光進行氣相沉積過程中基板上的光量變化。它也用在我們自己的氣相沉積設(shè)備中，并作為膜厚監(jiān)測設(shè)備完成，該設(shè)備具有氣相沉積零件制造商的專有技術(shù)。
更新日期：2026-07-07 訪問量：1844
TLV-304-IR日本朝日分光紅外傳感器材料的透明度測量儀
日本朝日分光紅外傳感器材料的透明度測量儀TLV-304-IR 緊湊型透射測量儀，非常適合紅外接近傳感器的材料檢查過程。接近傳感器對應(yīng)于850 nm的光接收波長。 *您也可以選擇940nm類型。
更新日期：2026-07-07 訪問量：1891
