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更新日期：2026-06-22
簡(jiǎn)要描述：
日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線分光干涉式測(cè)厚儀TOF-S實(shí)現(xiàn)高測(cè)量重復(fù)性（± 0.01 μm 或更小，取決于對(duì)象和測(cè)量條件）不易受溫度變化的影響可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線式和在制造過程中使用的在線式。反射型允許從薄膜的一側(cè)進(jìn)行測(cè)量僅可測(cè)量透明涂膜層（取決于測(cè)量條件）
| 品牌 | 其他品牌 | 類型 | 數(shù)字式 |
|---|---|---|---|
| 測(cè)量范圍 | 1 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線分光干涉式測(cè)厚儀TOF-S
實(shí)現(xiàn)高測(cè)量重復(fù)性（± 0.01 μm 或更小，取決于對(duì)象和測(cè)量條件）
不易受溫度變化的影響
可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線式和在制造過程中使用的在線式。
反射型允許從薄膜的一側(cè)進(jìn)行測(cè)量
僅可測(cè)量透明涂膜層（取決于測(cè)量條件）
| 模型 | 飛行時(shí)間 |
|---|---|
| 測(cè)量方法 | 非接觸式/光譜干涉式 |
| 測(cè)量對(duì)象 | 電子和光學(xué)用透明平滑膜、多層膜 |
| 測(cè)量原理 | 光譜干擾型 |
日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線分光干涉式測(cè)厚儀TOF-S
| 測(cè)量厚度 | 1～50μm（薄材料）、10～150μm（厚材料） |
|---|---|
| 測(cè)量長(zhǎng)度 | 50-5000 毫米 |
| 測(cè)量間距 | 1 毫米 ~ |
| 小顯示值 | 0.001微米 |
| 電源電壓 | AC100 V 50/60 Hz |
| 工作溫度限制 | 5～45℃（測(cè)量時(shí)溫度變化1℃以內(nèi)） |
| 濕度 | 35-80%（無冷凝） |
| 測(cè)量區(qū)域 | φ0.6 毫米 |
| 測(cè)量間隙 | 約 30 毫米 |
