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更新日期：2025-05-02
簡要描述：
日本kjtd臺式超聲波探傷可視化設備D-view超聲波探傷儀的應用范圍是檢測半導體內部的裂紋，區分粘附和剝離，檢測新材料（例如精細陶瓷和復合材料）的空隙和分層，或對飛機上使用的加工零件進行z終檢查。它已經非常廣泛，并且已經成功地檢查了異種金屬的接合面。
日本kjtd臺式超聲波探傷可視化設備D-view
有兩種在不破壞材料內部的情況下記錄圖像的方法：X射線探傷和超聲探傷。我們正在開發結合了超聲波探傷儀和圖像處理設備的超聲波探傷儀。
超聲波探傷儀的應用范圍是檢測半導體內部的裂紋，區分粘附和剝離，檢測新材料（例如精細陶瓷和復合材料）的空隙和分層，或對飛機上使用的加工零件進行z終檢查。它已經非常廣泛，并且已經成功地檢查了異種金屬的接合面。
D-view（臺式超聲查看系統）是一種節省空間的臺式超聲探傷可視化設備，可以輕松地在實驗室或辦公室中安裝。我們*的SDS系列高性能超聲波掃描儀的可用性和廣泛的數據處理軟件被繼承了下來，因此可以應用于各個領域的材料檢查。當然，它配備了我們新開發的高頻超聲波探傷儀“ HIS3”。
D-view具有2軸掃描儀，可掃描水箱的工件以進行浸入式超聲波探傷，而作為探傷儀主體的高頻超聲波探傷儀HIS3可檢測脈沖反射方法的故障，并用于圖像處理和掃描儀。它由一臺可控制的工業計算機組成。
日本kjtd臺式超聲波探傷可視化設備D-view
| 超聲波探傷儀 HIS3 HF | 脈沖輸出 | -200V（空載） |
| 脈沖星下降時間 | 1.0ns以下 | |
| 接收帶 | 1.0-300MHz（-3dB） | |
| 增益調整范圍 | 0-71dB / 1dB | |
| 光路測量 | 0-40.94微秒 | |
| CPU控制 | 并行I / O，每個RS232C | |
| 掃描儀（2300） （2軸掃描儀標準規格） | 掃描范圍（mm） | X：300mm Y：300mm Z：100mm（Z為手動） 探頭角度校正范圍θ1：±25°θ2：±20° |
| 掃描速度 | z大300mm /秒 | |
| 掃描間距 | 0.01-9.99mm（XY） | |
| 掃描方式 | 平面掃描（XY模式） | |
| 其他 | 掃描區域示教，點動遙控功能 | |
| 數據處理 | 數據收集點 | z多200,000,000點（一次掃描記錄） |
| 數據存儲 | 硬盤，DVD-ROM，USB端口 | |
| 保存設置條件 | 同上 | |
| 圖像處理軟件 | 漸變顯示： 回聲等級： 實時處理： 圖像處理：
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| 其他選擇 | 彩色打印機，局域網連接 |
