從晶圓探傷到材料科研：林時計 LA-100IR 紅外光源選型與應用指南

發布日期：2026-06-25      瀏覽次數：229

 

LA-100IR整機外觀
 

一、產品基礎概述

LA-100IR 是日本林時計專為純近紅外精密光學檢測研發的 100W 鹵素光纖光源，內置 IR80 專業紅外濾光片，完1全屏蔽可見光，僅輸出800~1100nm 近紅外波段，解決常規白光、寬譜光源雜光干擾成像、檢測誤判的痛點，適配機器視覺、半導體無損探傷、理化科研、夜視設備校準等專業場景，可搭配各類光纖導光束靈活布光，支持自動化產線集成與實驗室臺式使用。

核心技術參數

項目	詳細規格
光源類型	DC 直流 12V 100W 帶紅外反射鏡鹵素燈
輸出波段	800~1100nm（無任何可見光溢出）
調光方式	電壓可調，光強調節范圍 2%~100%
遠程控制	DC0~5V 電壓遠程調光，適配自動化設備
防護設計	過流保護、過熱斷電保護、燈管斷路檢測報警
整機功耗	130W，寬電壓 AC100-240V 自適應
燈泡壽命	平均 1000 小時，強制風冷散熱
整機重量	約 2.7kg，工業金屬機身
適配配件	各類單支、環形、分叉光纖導光管

五大核心產品優勢

1. 光譜純度極1高，零可見光干擾

    

   內置 IR80 高通紅外濾鏡，徹1底過濾 800nm 以下可見光，肉眼不可見光源，既不會干擾人眼作業，也避免表面反光造成成像噪點，大幅降低精密檢測錯檢率。

2. 直流無頻閃穩定輸出

    

   直流點燈模式，長時間相機連續拍攝、光譜采集無畫面閃爍，實驗數據重復性、工業成像一致性強。

3. 本地 + 遠程雙模式調光

    

   機身旋鈕手動調光 + 電壓信號遠程控制，可接入 PLC 視覺產線，實現工位亮度程序化調節。

4. 強穿透廣譜近紅外輸出

    

   對比窄帶紅外 LED 光源，800-1100nm 連續光譜對硅、塑料、樹脂、薄膜、碳纖維等半透明材質穿透性更強，可識別多層內部隱性缺陷。

5. 工業耐用易集成

    

   緊湊型機身、標準光纖接口，臺式、設備嵌入式安裝均可，自帶安全防護電路，適配車間、實驗室嚴苛工況。

二、全行業運用場景深度分析

（一）半導體行業（核心應用領域）

應用場景

1. 硅晶圓缺陷透視檢測：近紅外可穿透單晶硅片，檢測晶圓內部微裂紋、空洞、雜質顆粒、隱痕劃痕，精度可達 5μm，是晶圓來料、封裝前無損篩查標配光源。

2. 3D 封裝、TSV 硅通孔填充完整性檢測，芯片夾層、塑封內部引線偏移、氣泡缺陷成像。

3. SiC、GaN 第三代半導體晶片厚度紅外干涉測量，精度 ±0.1μm。

選型適配價值

普通白光光源僅能檢測表面瑕疵，LA-100IR 依靠純近紅外穿透能力實現非接觸式內部探傷，避免探針式檢測劃傷精密晶圓，產線在線檢測效率提升 90% 以上。

（二）機器視覺 & 精密工業無損檢測

1. 塑膠、薄膜、玻璃制品檢測

    

   穿透亞克力、PET 薄膜、塑料外殼，檢測內部氣泡、分層、隱形劃痕、注塑缺料、雜質黑點；用于鋰電池隔膜、光學薄膜瑕疵高速視覺檢測。

2. 汽車零部件檢測

    

   碳纖維復合材料分層、樹脂分布均勻性檢測；塑料內飾、線束護套內部缺陷篩查；車身焊接區域虛焊、氣孔紅外成像檢測；車載自動駕駛紅外攝像頭、毫米波傳感器校準測試。

3. 電子 PCB、精密元器件檢測

    

   透過電路板阻焊層、封裝膠，查看內層線路偏移、焊點虛焊、元器件引腳氧化、內部封裝異物。

（三）理化科研實驗室領域

1. 材料近紅外光譜透射 / 反射特性測試、高分子、半導體材料光學性能研究；

2. 生物樣本、植物葉片近紅外成像觀測，農產品內部糖度、霉變無損實驗分析；

3. 光學鏡頭、紅外成像相機、光譜儀設備標定校準，暗室近紅外光學實驗環境搭建；

4. 文物保護：古畫、古籍紅外脫墨成像、顏料成分無損分析，不會損傷文物基材。

（四）安防、夜視測試領域

1. 安防監控紅外夜視攝像頭性能校準、夜視儀靈敏度測試，模擬夜間野外紅外環境；

2. 隱蔽式無可見光現場照明，安防取證、暗環境目標紅外拍攝，不會暴露觀測點位；

3. 紅外二維碼、隱形防偽標識掃描識別（可見光不可見，僅近紅外可成像讀取）。

（五）食品醫藥檢測

1. 瓶裝藥品、密封食品外包裝異物（玻璃碎屑、金屬、塑料雜質）無損透視檢測；

2. 果蔬內部霉變、糖度、空心缺陷無損快速篩查，依托 970nm 糖分特征吸收波段實現高精度檢測，檢測誤差小于0.5°Brix。

三、競品對比與選型適配分析

1. 對比普通寬譜鹵素光源

普通光源包含可見光 + 紅外，檢測時工件表面強光反射產生大量噪點，只能做表面檢測；LA-100IR 純紅外輸出，可穿透材質做內部缺陷檢測，成像信噪比提升 60% 以上，適合高精度質檢場景。

2. 對比窄帶紅外 LED 光源

LED 為單一 / 窄波段紅外，僅適合固定單一材質檢測；LA-100IR 連續 800-1100nm 寬近紅外光譜，適配硅、塑膠、樹脂、碳纖維多品類材料，缺陷檢出覆蓋面更廣，適合多材質通用檢測、光譜科研實驗。

3. 適用不適用場景總結

? 推薦使用場景：需要穿透半透明材料內部探傷、無可見光暗環境成像、近紅外光譜實驗、夜視設備標定、晶圓半導體精密檢測。
 
? 不推薦場景：可見光表面外觀檢測、短波紅外（＞1100nm）光譜研究、高溫烘烤加熱類場景。

四、使用配套方案建議

1. 常規缺陷檢測：搭配環形光纖、同軸光纖，消除工件表面反光，微小瑕疵成像更清晰；

2. 大面積工件透視：選用分叉式、直射型光纖，搭配漫反射鏡頭均勻布光；

3. 自動化產線：利用設備 DC0-5V 遠程調光功能接入視覺控制器，實現亮度自動化閉環調節；

4. 實驗室光譜測試：搭配準直鏡頭、光譜儀使用，可精準采集材料近紅外光譜數據。