采用光學(xué)薄膜監(jiān)測技術(shù)的顆粒計(jì)數(shù)測量分析

發(fā)布日期：2023-02-08      瀏覽次數(shù)：1307

采用光學(xué)薄膜監(jiān)測技術(shù)的顆粒計(jì)數(shù)測量分析

光學(xué)膠片監(jiān)測技術(shù)是利用粒子可視化技術(shù)，實(shí)時(shí)高速測量粒子數(shù)量的技術(shù)。

[1] 使用粒子可視化系統(tǒng)

靜態(tài)計(jì)數(shù)法

使用圖像處理包附帶的“ParticleEye"從粒子的可視化圖像中提取靜止圖像后，使用包中附帶的“ParticleEye SCF"進(jìn)行計(jì)數(shù)。

動(dòng)態(tài)計(jì)數(shù)法

在可視化的現(xiàn)場實(shí)時(shí)計(jì)數(shù)的方法使用可選軟件“ParticleEye DCF"。也可以在記錄可視化圖像的同時(shí)進(jìn)行計(jì)數(shù)。


ParticleEye DCF（視頻）

[2] 使用專門用于計(jì)數(shù)的系統(tǒng)

移動(dòng)可視化計(jì)數(shù)設(shè)備“Type-S"

這是一款易于在現(xiàn)場使用的移動(dòng)式計(jì)數(shù)設(shè)備，可讓您在查看手邊的監(jiān)控器的同時(shí)快速調(diào)查粉塵來源和泄漏位置。


S型

粒子產(chǎn)生量評(píng)價(jià)裝置“L-Wind"

可以定量評(píng)估在清潔環(huán)境中使用的產(chǎn)品產(chǎn)生的粉塵和生產(chǎn)設(shè)備機(jī)械元件的泄漏。可以準(zhǔn)確地檢測和計(jì)數(shù)整個(gè)數(shù)量，即使是最小數(shù)量的顆粒也不會(huì)丟失。這是一種不同于傳統(tǒng)吸氣式計(jì)數(shù)器的新型計(jì)數(shù)評(píng)價(jià)裝置。



左風(fēng)（圖片）

[3] 建立新的計(jì)數(shù)系統(tǒng)

我們可以單獨(dú)接受構(gòu)建應(yīng)用可視化技術(shù)的新型粒子檢測和計(jì)數(shù)系統(tǒng)的請求。請隨時(shí)與我們聯(lián)系。
下圖就是這樣的一個(gè)例子，但它是一個(gè)可以實(shí)時(shí)檢測液體中細(xì)小顆粒的系統(tǒng)。它還可用于監(jiān)測在化學(xué)管道內(nèi)流動(dòng)的液體中的異物。


液體中粒子監(jiān)測系統(tǒng)（圖片）




利用粒子計(jì)數(shù)監(jiān)測技術(shù)的最佳解決方案

• 細(xì)顆粒可視化的最佳光源是“Parallel Eye H"

• “Parallel Eye F"是在光線無法到達(dá)的密閉或狹窄空間中檢測細(xì)小顆粒的最佳光源。

• 兼具靈敏度和微粒子檢測功能的超高感度相機(jī)是專用超高感度相機(jī)“Iscope" 。